Современные решения для производства электроники
phone +7(495) 228-72-04
Задать вопрос
Оборудование
САПР
Материалы
Производители

Атомно-силовая микроскопия

nanoMETRONOM AFM
Атомно-силовой сканирующий микроскоп предназначен для визуализации свойств материалов, инспектирования и поверхностного анализа, профилометрических измерений и измерения параметров микро- и наноструктур.
Оборудование
Обработка полупроводниковых пластин и подложек Микросборка Сборка печатных плат Обработка проводов и монтаж соединений Тестовое оборудование Контроль электрических параметров Контроль качества соединений Контроль адгезии Контроль смачиваемости припоев и флюсов Визуальный контроль Испытательные камеры Атомно-силовая микроскопия Вспомогательное оборудование