nanoMETRONOM AFM

Атомно-силовой микроскоп nanoMETRONOM AFM позволяет локально визуализировать свойства материалов, такие как топология, сила трения, электростатическое взаимодействие, электропроводимость, магнетизм и др. Изображение выбранной области формируется с помощью взаимодействия между зондом и образцом. Микроскоп можно использовать для измерения критических размерных параметров структур оксида кремния, поверхностного анализа полимерных солнечных ячеек, профилометрических измерений кремниевых образцов, инспектирования МЭМС пластин, изображения структур, полученных после наноимпринтной литографии, и многих других задач. Более подробная информация о применениях – в каталоге.

Для получения изображения атомно-силовой микроскоп обычно измеряет вертикальные и латеральные отклонения зонда, используя оптическую систему контроля отклонения. Атомно-силовые микроскопы компании nano analytik GmgH (Германия) разработанные совместно с японской компанией SEIWA Optics, используют инновационную термомеханическую и пьезорезистивную систему контроля отклонения для быстрого бесконтактного отображения. Кантилеверы SmartActiveProbe с системой контроля такого типа предпочтительнее для большинства применений.

Особенности и преимущества серии nanoMETRONOM AFM:

• Модульная система, включающая в себя позиционирующий стол, рабочую камеру, систему гашения вибраций, кантилевер SmartActiveProbe
• Высокая скорость отображения в вакууме, воздухе и жидкости
• Быстрая и удобная замена кантилевера
• Адаптация под требования заказчика

Технические характеристики атомно-силового микроскопа nanoMETRONOM AFM:

Функции
Рабочий режим	АС/DC
Отображение топографии	+
Отображение амплитуды/фазы	+
Построение графика силы	+
Сближение образца и зонда	Автоматическое
Настройка зонда	Автоматическая
Принцип работы	Пьезорезистивный
Диапазон сканирования	Сканнер Pales *: 20 х 20 х 5 мкм Сканнер Adeona: 15 х 15 х 4 мкм
Скорость колебаний наконечника	по осям X,Y: 5 мм/с по оси Z: 11.67мм/с
Частота сканирования	0.01 ~ 100 Гц
Мин. измеряемое смещение	140 пм
Управление с обратной связью	В режиме реального времени, FPGA
Одновременные снимки	Фазовый, частотный, амплитудный, топографический
Размеры образцов	До 100 мм (в стандартной конфигурации)
Опциональные функции	MFM, EFM, PFM, C-AFM, SThM

Конфигурации микроскопа

Модель	nanoMETRONOM-HS	nanoMETRONOM-PJ	nanoMETRONOM-S2
Диапазон сканирования	20 х 20 х 5 мкм	30 х 30 х 10 мкм	10 х 10 х 10 мкм
Частота сканирования	От 0,01 до > 200 Гц	От 0,1 до 40 Гц	От 0,1 до > 20 Гц