27 января 2020

Компания Евроинтех предлагает вашему вниманию оборудование nanoMETRONOM AFM для атомно-силовой микроскопии производства немецкой компании nano analytik GmbH совместно с японской фирмой SEIWA Optics.

Атомно-силовой микроскоп nanoMETRONOM AFM позволяет измерять критические размерные параметры наноструктур, проводить профилометрические измерения образцов, инспектирование пластин, позволяет локально визуализировать свойства материалов, такие как топология, сила трения, электростатическое взаимодействие, электропроводимость, магнетизм и др.

Модель nanoMETRONOM AFM оснащается кантилевером SmartActiveProbe с термомеханической и пьезорезистивной системой контроля отклонения; имеет встроенную систему гашения вибраций и высокую скорость отображения в различных средах.

Более подробно об атомно-силовом микроскопе nanoMETRONOM AFM.